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LCR數字電橋使用問答

LCR數字電橋使用問答


LCR 數字電橋使用問答
1. 能說明一下數字電橋部份符號標識的釋義嗎?
答:L:電感;C:電容;R:電阻;
B:電納;D:損耗;G:電導;
Q:品質因數; X:電抗;Z:阻抗;θ:相位角;
DC:直流;AC:交流;
FREQ:頻率;STORE:存儲;RECAL:調用儀器設置;
AUTO:自動;MODE:模式;
SER:等效串聯;PAR:等效并聯。
2. 不同的測試頻率對元器件測試有影響嗎?
答:有。
3. 測試電壓不同對元器件測試有影響嗎?
答:有。
4. 對于一個已知的電容,使用者應該選用什么樣的測試條件?
答:(1)小于 100pF 電容用 1MHz(如果數字電橋具備這個檔位的話)頻率測量;
2)中等容量,如 1000pF-10uF 電容,1kHz10kHz100kHz 應該選擇選哪
一個檔位,國家標準,測試中等電容的測試頻率標準是 1kHz。電解類,如鋁電
解,鉭電解等用 100Hz 120Hz
3)從電平的角度來說,大部分電容對測試電平不敏感,因此,不同電平測
試變化不大,但有些介電常數大的電容對測試電平非常敏感,故應根據實際需
要仔細選擇測試電平。一些入門級的數字電橋沒有該選項,只能使用默認測試
電平進行測試。
LCR數字電橋使用問答
5. 測試信號電平是什么意思?
答:施加于被測元器件上的電平是十分重要的。實際施加于被測件上的電平(電
壓或電流)與儀器信號源阻抗有關,雖然儀器電平相同,若信號源阻抗不同,
實際施加于被測件上的電平就不同。
6. 數字電橋測量的準確度如何?
答:測量準確度是反映儀器性能的主要指標之一。確切了解所需儀器的準確度
是準確評價元器件優劣的關鍵。一般來講,儀器本身的準確度應比測量元器件
的技術指標要求高。通常,儀器設備或其宣傳資料給出的參數是在一定條件下
的*高準確度,也就是所謂的理論值。
   實際上,無論是數字電橋還是其它設備,參數標稱值與實際值均存在或多
或少的差異,這是使用者應該清楚并注意的。要想了解被測量元器件在測量頻
率下呈現的阻抗、以及對應測量條件下,測試儀器的準確度是否滿足測量要求,
那么,充分了解儀器的測量準確度是極為重要的。
   當然,測試準確度與所給定的測試條件密切相關,這一點,同樣不能忽視。
須知,即使是相同基本準確度的儀器,其在不同量值被測元器件和不同頻率下
其準確度是有很大區別的。
7. 什么是損耗?品質因數 Q ?
答:DQ 兩者互為倒數,其計算方法為被測元器件的有功功率 PR(電阻器耗能)
與無功功率 PC(電容器儲能)或 PL(電感器儲能)的比值,對串聯和并聯等效
電路使用下式計算:=Rs/|Xs|D=|Xp|/RpD Q 的值與等效方式無關。
8. 怎樣選擇串聯和并聯測試參數?
答:(1)電容測量,可以兩個不同的測試頻率下損耗因子的變化性質來決定,
若頻率升高而損耗增加,則應選用串聯等效電路測試模試;若頻率升高而損耗
減小,則應選用并聯等效電路測試模試。
   2)對于電感來說,情況正好與電容相反。實際中,器件的 D 不可能與頻
率完全成正比關系,其可能有并聯成分,也可能有串聯成分,應看何種成分占
主導地位。
   3)根據元器件的*終使用情況來判定。如用于信號耦合電容,則*好選
擇串聯方式,旁路或并聯諧振則使用并聯等效電路。
   4)約定俗成的習慣是,低阻抗元件用串聯,從數值上說阻抗小于 100
姆用串聯,大于 10 千歐用并聯,阻抗大于 100 歐姆-10 千歐的,根據實際情況
(主要是指元器件的使用場合及使用要求)選擇。
9. 什么叫等效串聯電阻 Rs?等效并聯電阻 Rp?
答:任何一個被測元器件都可以等效為一個串聯電路或并聯電路,串聯電阻 Rs
為串聯等效電路中的電阻部分,Rs 也叫 ESR,并聯電阻 Rp 為并聯等效電路中的
電阻部分,Rp 也叫 EPR
10. 怎樣選擇測試速度?
答:一般來說,測試速度是以犧牲測試精度為代價的。速度越快,精度越差,
讀數穩定性差,有效位數變少。如果要求測試精度,一般選擇慢速,要考慮測
試速度和測試精度就選擇中速。通常情況下,大多選擇中速檔位進行測試。
11. 儀器為什么要進行清零?
答:(1)由于儀器本身的漂移,會疊加一些雜散成份,如接觸電阻、電感、并
聯電容等,不清零就會有誤差。
   2)短路清零對小阻抗器件更為有效,開路清零對高阻抗器件更有效。
12. 有些 LCR 數字電橋選配 GPIB 接口有什么作用?
答:這種功能大多出現在稍上等的電橋上。主要是使設備通過 GPIB 接口和電腦
相連,編寫相應的軟件,可以實現用電腦控制儀器,進行自動測量。對于一般
應用而言,GPIB 接口功能可不必考慮。
13. 什么是負載校準,負載校準應注意哪些問題?
答:負載校準是一種的上等的儀器校準方法,可以使儀器在高于儀器原有準確
度的基礎上測量元器件,主要用于下面兩種情況:
   1)當有更準確的元器件并需對同規格元器件進行更高準確度的測量。
   2)統一現場所有 LCR 數字電橋的測試數據。
14. 掃頻清零方式和點頻清零方式有何區別?
答:(1)掃頻一般針對實際測試頻率點比較多的被測元器件,點頻清零一般針
對只要一個頻點的被測元器件;
   2)掃頻清零耗時較長。如同惠 TH2816A 電橋,無論短路清零,還是開路
清零,均采用的是掃頻清零方式。
15. 測量的顯示范圍和精度范圍有何區別?
答:測量的顯示范圍一般大于測試設備所標識的精度范圍。
16. 輸出阻抗不同對測試結果有什么影響?為什么有的儀器有 30Ω 100Ω
的內阻選擇?
答:(1)儀器輸出阻抗不同,會導致被測元器件上施加的測試信號不同,*終
會導致顯示參數的差異和不同。
   2)測試時,測試信號其實是被測件與儀器內阻輸出阻抗串聯在一起,會
對信號產生分壓作用。因此,低阻抗測試實際加到被測器件上的電平小于設定
電平。30Ω兼容較老款式電橋,100Ω可與進口(如 Agilent)儀器設備匹配。
17. 有些電橋的 P1\P2\P3 有何具體意義?
答:儀器的 P1\P2\P3 用于元器件的上等品、二級品、三級品的等級分選。通常
情況下,上等品的百分比極限小于二級品極限,二級品的百分比極限小于三級
品極限。
18. 同一電感在不同廠家的 LCR 儀器上用相同測試條件,為什么測試數據會
有很大差別?
答:(1)絕大多數電感都帶有鐵芯磁芯,而帶有鐵芯磁芯的電感對其施加的磁
場非常敏感,磁場與測試信號電流成正比,因此相同電平若內阻不同,電流就
會不一樣,則結果有很大差別。這是客戶電感測試時遇到的普遍問題。
   2)判定儀器測試電感的一致性原則,應該是施加與被測件上的電流要一
致。但有一個特例需要注意,就是空心電感與磁場不在此例。
LCR數字電橋使用問答
19. 為什么有時器件會顯示“-”?
: 1)過度清零或不適當的清零。(2)受限于儀器的精準度。
20. 增加測試線的長度對測試有沒有影響?
答:有。一般 LCR 數字電橋出廠時,采用 1 米長的線進行校準,如超過 1 米,
則需要重新校準。
21. 儀器的自動和保持有什么實際作用?
答:儀器的自動檔位,一般用于未知大小的元器件的測試;而保持檔位,一般
用于大小已經確定的元器件測試;保持功能可以提高儀器的測試效率,還可以
起到延長儀器內部繼電器的使用壽命的作用。
22. 電橋的串行軟件有何功能?
答:一些電橋設置有串行接口,供串行軟件和電腦連接使用,以便實現統計分
析或者自動測試功能。
23. 儀器可以測貼片元器件嗎?
答:當然可以,只要配置(大多是選配)專用 SMD 測試夾具就可以測試貼片元
器件了,SMD 測試夾具分為兩端口夾具和四端口夾具。
24. 直流偏置電流源在有些頻率下為何無法清零?
答:交流輸出阻抗頻響不一致,在某些頻率點可能產生諧振,因此,無法完全
清零。
25. 測試信號電平相關性是什么意思?
答:所有元器件均存在信號電平的相關性。即在規定測試頻率下,元器件數值
與信號電平的大小有關。有些元器件對電平的變化不敏感,而有些元器件對信
號電平具有極強的敏感性,如高 K(高介電常數)值的陶瓷電容,高導磁率的電
感器等。因此,對此類器件規定其測量信號電平(電壓或電流)是非常重要的。
26. 測試時,頻率設置越高越準確嗎?
答:不是。測試時,測試頻率高低選擇,取決于被測元器件本身,包括元器件
的使用場合。
 
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